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技術情報

 携帯電話の落下試験とシミュレーション

4. 携帯電話の落下試験とシミュレーションの実際

主な評価対象は以下のようなものが挙げられます。

(1)ケースの破壊
(2)液晶部分の破損
(3)IC部品のはがれ
(4)アンテナ回りの破損

携帯電話1
携帯電話2

携帯電話3

落下衝突試験

-落下条件-

  • ・開蓋状態 水平落下
    開蓋状態
  • ・閉蓋状態 水平落下
    閉蓋状態

-試験条件-

○落下速度の信頼性
 ・設定落下高さと衝突速度補正表

○落下姿勢のコントロール
 ・空圧ペンシリンダー  ・落下ガイドレール  ・0.5m~2m

○試験体最大重量

  • 落下試験機1
  • 落下試験機2

-計測方法-

○加速度

○ひずみ

○高速度カメラ撮影

-試験による加速度測定値-

○閉蓋状態 : 水平落下

○最大化速度 : 1000G~2000G

○落下姿勢の傾斜 :片当たりによる加速度のばらつき

  • 液晶外側ケース1
  • 液晶外側ケース2

-ひずみ履歴の試験結果-

○試験結果の再現性

  • ひずみ履歴の試験結果1
  • ひずみ履歴の試験結果2

構造系

  • 段ボール構造体の落下衝撃シミュレーション
  • 携帯電話の落下試験とシミュレーション
  • PCクラスタを利用した解析例
  • 衝撃による構造挙動の考え方
  • 材料試験

流体-構造連成

  • シミュレーションによるはんだ接合の変形推定

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