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落下試験

当社所有の落下試験機にて、小型精密機器などの落下試験を実施し、解析をおこないます。
落下試験により試験体に発生する加速度、ひずみを測定し製品設計のデータとしてご利用いただけます。携帯電話、携帯端末、デジタルカメラ等の落下試験が可能です。当社の衝撃解析ソフトAnsys LS-DYNAとともにご利用いただければ、貴社製品の落下試験と解析の妥当性の評価も実施していただけます。

計測機器のスペック

落下試験では加速度計と動ひずみ計を用いて加速度とひずみを計測いたします。
ひずみと加速度は同時計測可能です。また加速度についても８channel同時測定可能です。加速度センサー・ひずみゲージは試験体平面領域に粘着します。

  • 携帯電話の閉じた状態での落下試験体
    携帯電話の閉じた状態での落下試験体
  • 携帯電話の開いた状態での落下試験体
    携帯電話の開いた状態での落下試験体

試験体、試験条件、納品物

試験体 （1） 重量　　　　　　　2Kg以下
（2） 試験体　　　　　サイズ幅：125mm以下
　　　　　　　　　　　　 奥行：162mm以下
（3） 試験体支持　　支持形状ペンシリンダー円盤
　　　　　　　　　　　　 またはピン先
試験条件 （1） 室内計測 　　　 -
（2） 落下高さ　　　25cm～2m
　　　　　　　　　　　（50cm以上は姿勢保持治具付き）
（3） 落下床面　　スチール鋼平板、その他
注） 試験温度、湿度のコントロールはおこないません。
落下姿勢のモニター（高速度カメラなど）はおこないません。
納品物 （1） 加速度履歴　　（デジタルデータ）
（2） ひずみ履歴　　（デジタルデータ）
ご要望により
（3） データの平均化、フィルタリングなどもおこないます。

詳細は別途ご相談させていただきます。

  • 試験体支持部のクローズアップ
    試験体支持部のクローズアップ
    （ペンシリンダー支持形状は円盤）
  • 落下試験装置の概観
    落下試験装置の概観

解析事例

 落下試験について詳細は、お気軽にお問合せください。

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